서울과기대 김관래 교수 연구팀, 원자힘현미경 이용한 압전 나소선 소재 평가법 개발

▲ 그림(a), (b)는 종횡비가 다른 산화아연 나노선에 대하여 원자힘현미경을 이용하여 탄성계수가 크게 다른 두 종류의 탐침으로 전류와 횡력 신호를 얻고 분석한 결과를 보여준다. 연구팀은 탐침의 탄성계수에 따라서 마찰전기 효과에 의해 상당한 크기의 전류가 발생함을 규명했다.

▲김관래 교수(왼쪽), 양이준 석사과정 연구원 (오른쪽)

서울과학기술대학교 MSDE(Manufacturing System & Design Engineering)학과 김관래 교수 연구팀(제1저자 양이준 연구원)이 원자힘현미경(Atomic Force Mciriscope, AFM)으로 전자세라믹스 나노선(Nanowire)의 크기에 따른 압전(壓電) 성능을 평가하는 방법을 개발했다.

최초로 전도식 원자힘현미경(Conductive AFM)과 횡력 현미경(Lateral Force Microscope) 신호를 동시에 분석하는 연구를 시도해 산화아연 나노선의 종횡비가 증가할수록 적은 힘으로도 더 큰 전류를 얻을 수 있음을 증명했다.

이번 연구 내용은 국제학술지 <네이처> 자매지인 <사이언티픽 리포트(Scientific Reports)> 2월 호에 게재되었다.

* 이 기사는 서울과학기술대학교가 제공한 자료로 만든 정보성 기사입니다. * 편집 : 기획콘텐츠팀